Динамический тест контроля запоминающего устройства
Перейти к навигации
Перейти к поиску
Динамический тест контроля запоминающего устройства - Режим проверки запоминающего устройства, в котором записываемые данные с каждым циклом обращения меняются
Источник:
ГОСТ 25492-82 УСТРОЙСТВА ЦИФРОВЫХ ВЫЧИСЛИТЕЛЬНЫХ МАШИН ЗАПОМИНАЮЩИЕ Термины и определения