Динамический тест контроля запоминающего устройства

Материал из НП ППП вики
Версия от 13:58, 2 октября 2024; Munchen (обсуждение | вклад) (Новая страница: «Динамический тест контроля запоминающего устройства - Режим проверки запоминающего устройства, в котором записываемые данные с каждым циклом обращения меняются Источник: ГОСТ 25492-82 УСТРОЙСТВА ЦИФРОВЫХ ВЫЧИСЛИТЕЛЬНЫХ МАШИН ЗАПОМИНАЮЩИЕ Термины и оп...»)
(разн.) ← Предыдущая версия | Текущая версия (разн.) | Следующая версия → (разн.)
Перейти к навигации Перейти к поиску

Динамический тест контроля запоминающего устройства - Режим проверки запоминающего устройства, в котором записываемые данные с каждым циклом обращения меняются

Источник:

ГОСТ 25492-82 УСТРОЙСТВА ЦИФРОВЫХ ВЫЧИСЛИТЕЛЬНЫХ МАШИН ЗАПОМИНАЮЩИЕ Термины и определения

Источник — https://wiki.appp.ru/index.php?title=Динамический_тест_контроля_запоминающего_устройства&oldid=957